三星為汽車安全部署行業領先的新思科技TestMAX XLBIST動態系統內測試解決方案

發布時間:2020-02-28 18:29:59      來源:
  • 新思科技TestMAX XLBIST解決方案通過克服阻礙傳統自測試解決方案的硅問題,提供更高的故障覆蓋率和更短的測試時間
  • 新思科技TestMAX XLBIST是新思科技TestMAX產品系列的最新成員,該產品系列用于實現RTL-to-GDSII測試

加州山景城2020年2月28日 /美通社/ -- 新思科技(Synopsys, Inc.,納斯達克股票代碼:SNPS)近日宣布,三星成功在其汽車集成電路上部署了新思科技TestMAX XLBIST解決方案,提供關鍵故障的動態系統內測試,以滿足嚴苛的功能安全要求。汽車技術的加速發展意味著需要更多的汽車芯片來滿足自動駕駛和高級駕駛輔助系統(ADAS)的更高汽車安全完整性等級(ASIL)要求。IC Insights的一項研究顯示,據預測,未來數年,汽車集成電路需求的增長速度將超過所有其他終端用戶應用。新思科技汽車設計解決方案讓開發者能夠提供業界領先的全面的功能來實現功能安全機制,從而達到他們的目標ASIL。

使用新思科技TestMAX XLBIST解決方案,三星得以高效實現動態系統內測試,在車輛運行關鍵階段(包括通電、駕駛模式和斷電)定期執行測試。作為業界首個容許不確定數字狀態同時快速實現高故障覆蓋率的自測試解決方案,新思科技TestMAX XLBIST使開發者能夠最小化設計實現的周轉時間。新思科技XLBIST解決方案,包括其他TestMAX產品,是三星RTL-to-GDSII設計汽車參考流程非常重要的一部分。

三星印度研究院副總裁S. Balajee表示:“三星的目標是為客戶提供創造性解決方案,滿足其高要求汽車設計實現的需求。作為與新思科技合作打造三星世界級汽車參考流程的一部分,新思科技TestMAX XLBIST發揮著關鍵作用,幫助實現客戶的測試覆蓋和測試時間功能安全目標,同時最大限度地減少設計影響。”

新思科技TestMAX XLBIST解決方案提供非常高的系統內測試故障覆蓋率,同時輕松滿足最大允許測試時間。XLBIST解決方案可避免之前系統內測試技術常見的迭代設計修改、顯著的硅面積增加以及更長的項目時間表等問題。新思科技TestMAX XLBIST與TestMAX Access的結合,可通過嵌入式控制器實現低延遲上電自測試(POST),也可以通過CPU接口實現可配置系統內測試。XLBIST解決方案利用其他新思科技TestMAX產品組合,提供基于RTL的可測試性分析以盡早找到測試問題;物理感知測試點插入以提高故障覆蓋率;以及功耗感知測試向量生成以滿足系統級功耗目標。新思科技TestMAX產品系列支持全面的RTL-to-GDSII可測試性設計實現流程(完全整合到新思科技Fusion平臺),并提供業界領先的全面的測試和DFT能力。

新思科技芯片設計事業部測試自動化副總裁Amit Sanghani表示:“TestMAX XLBIST解決方案是我們為客戶提供的數項測試創新之一,可滿足其對汽車和其他任務關鍵型設計的質量和可靠性需求。與三星等領先公司密切合作可加快我們提供業界領先解決方案的能力,滿足客戶對于結果質量、上市時間和安全性的目標。”

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